Fortbildungsveranstaltung am 26. September 2010Thema: Messunsicherheiten nach ISO GUM und charakteristische Grenzen nach ISO 11929 Vortragende G. Kanisch und R. Michel | Zeit | Dauer | Redner | Themen | | 15:00 – 15:40 | 40 min | Michel | Grundlagen der Metrologie ISO GUM & GUM Supplement I Bayes Theorie der Messunsicherheiten ISO 11929 Grundlagen | | 15:40 – 15:55 | 15 min | Pause | | 15:55 – 16:15 | 20 min | Michel | Allgemeines (chemisches) Messverfahren Zählrate bei Zeitvorwahl Aktivität aus zählender Messung Zählrate bei Ratemeter Oberflächenkontamination bei Ratemeter Allgemeines Modell nach ISO 11929 mit EXCEL Dazu spezielles Modell: Wischtest | | 16:15 – 16:35 | 20 min | Kanisch | Zukunft von ISO 11929 in den Messanleitungen Rechenanleitung: Unsicherheiten & Kovarianzen | | 16:35 – 16:50 | 15 min | Pause | | 16:50 – 17:30 | 40 min | Kanisch | Portalmonitor Gamma-Spektrometrie mit Interferenzen (Handmethode; z.B. Ra-226 über 186 keV) Alpha-Spektrometrie mit kontaminiertem Tracer Entfaltung allgemein – mit Matrix-Algebra in Excel) Lineare Entfaltung: Sr-90+Y-90/Sr-89 Lineare Entfaltung: Sr-90+Y-90/Sr-89/Sr-85 Lineare Entfaltung: Multinuklid-Gamma-Spektrometrie UNCERTRADIO und Allgemeine EXCEL-Blätter | Als Unterlagen werde die Vortragsfolien als Handzettel, (zwei Folien pro Seite) ausgegeben.
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Aktualisiert ( Freitag, 12. März 2010 um 14:03 )
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